단국대학교는 22일 한관영(전자전기공학부, 공과대학장)교수가 휴대전화나 각종 디스플레이 표면에 적용하는 나노박막 표면 불량을 고속 측정하는 장비를 세계 최초로 개발했다고 전했다.
 

보통 디스플레이는 표면에 20~40㎚ 두께 나노박막을 입혀 매끄럽게 처리하는 과정을 거친다. 지금까지는 나노박막 불량 여부를 확인하려고 투과전자현미경, 원자와 주사전자현미경으로 표면 증착 정도를 판별하지만 시간이 오래 걸리고 정량 측정이 어려워 불량 제품을 함께 출하하는 경우가 잦았다.

더구나 폴더블과 플렉시블 디스플레이는 양면 접착이 가능한 OCA(광학용투명접착필름)를 사용해 여러 시트층을 붙이는 데 접히는 부분에서 들뜸 현상이 많이 발생해 시트 전체를 폐기하기도 했다.

한 교수는 ㈜파웰 코퍼레이션 지원을 받아 디스플레이 기판의 나노박막 표면을 고해상도 카메라로 촬영한 뒤 각 표면 에너지를 측정해 불량 여부를 판별하는 장비를 개발했다. 8인치 디스플레이 전 면적을 40초 이내로 측정해 빠른 시간 안에 불량 여부 판독이 가능하다. 이를 활용하면 각 나노박막 필름 불량 여부를 사전에 검사한 뒤 양품 자재만 사용하기에 업계의 비용 손실을 줄이고 생산성 향상에 크게 이바지하리라 전망한다.

용인=우승오 기자 bison88@kihoilbo.co.kr

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